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あらゆるニーズに対応しています。
- 用途
- 半導体関連製造装置
航空宇宙関連部品など
- 納品形態
- 鋳造品・鍛造品(ブロック形状)
- 材質物性(測定例)
-
分類:低炭素系LEX
特徴:Co1%以下、低熱膨張・鍛造可能
平均熱膨張係数×ppm/℃(10〜40℃) | ≦1.5 | 伸び(%) | 29 |
適用下限温度(℃) | -196 | 硬さ(HB) | ー |
0.2%耐力(N/mm2) | 198 | ヤング率(GPa) | 125 |
引張強さ(N/mm2) | 340 | 熱伝導率 W/(m・K) | ー |
- ※上記は鋳造品の場合の物性値となります。
- ※平均熱膨張係数以外のデータは測定例であり、数値を保証するものではありません。
- ※ヤング率の測定法は「曲げ共振法」を用いております。
- ※内容は予告なく変更する場合があります。
- 用途
- 半導体関連製造装置、
航空宇宙関連部品など
- 納品形態
- 鋳造品・鍛造品(ブロック形状)
- 材質物性(測定例)
-
分類:低炭素系LEX
特徴:低熱膨張、鍛造可能、IF2より機械的特性良好
平均熱膨張係数×ppm/℃(10〜40℃) | ≦1.5 | 伸び(%) | 32 |
適用下限温度(℃) | -196 | 硬さ(HB) | ー |
0.2%耐力(N/mm2) | 212 | ヤング率(GPa) | 125 |
引張強さ(N/mm2) | 357 | 熱伝導率 W/(m・K) | 13.5 |
- ※上記は鋳造品の場合の物性値となります。
- ※平均熱膨張係数以外のデータは測定例であり、数値を保証するものではありません。
- ※ヤング率の測定法は「曲げ共振法」を用いております。
- ※内容は予告なく変更する場合があります。
- 用途
- 半導体関連製造装置など
- 納品形態
- 鋳造品
- 材質物性(測定例)
-
分類:高炭素系LEX
特徴:1×ppm/℃以下または1〜6×ppm/℃の範囲から最適な低熱膨張係数を選択可能、鋳造性・切削性・低温安定性
平均熱膨張係数×ppm/℃(10〜40℃) | 1.0〜2.0 | 伸び(%) | 15 |
適用下限温度(℃) | -196 | 硬さ(HB) | 135 |
0.2%耐力(N/mm2) | 260 | ヤング率(GPa) | 130 |
引張強さ(N/mm2) | 440 | 熱伝導率 W/(m・K) | 14.0 |
- ※平均熱膨張係数以外のデータは測定例であり、数値を保証するものではありません。
- ※ヤング率の測定法は「超音波パルス法」を用いております。
- ※内容は予告なく変更する場合があります。